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两项纳米测控技术具备批量生产能力
发布时间:2002-12-24    浏览次数:2752
 

  纳米技术尽管在中国已得到广泛开发和应用,但测控计量仪的研制仍相对滞后。日前,由国内自主开发、研制的纳米测长仪和量块快速检测仪两项技术成果通过了专家鉴定。这不仅表明我国在微/纳米光电测控领域已处于世界领先水平,而且对解决目前制约高新技术、传统制造业发展及新材料研制过程中的计量技术问题,推动世界精密计量仪器的升级换代都是一大突破。
  纳米测长仪是一种通用长度传感器,它的研制成功表明长度通用量具已提高到纳米量级,并且从静态人工读数发展到数据化自动显示。
  据了解,目前,这两项技术国内均已具备批量生产的能力,除在国内销售外还出口到美国、澳大利亚、日本和芬兰等国。据悉,具有世界一流水平的纳米检测中心也在建设中。
        

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